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JIS K9502-1995 L(+)-抗坏血酸

作者:标准资料网 时间:2024-05-28 04:41:18  浏览:8246   来源:标准资料网
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【英文标准名称】:L(+)-Ascorbicacid
【原文标准名称】:L(+)-抗坏血酸
【标准号】:JISK9502-1995
【标准状态】:作废
【国别】:日本
【发布日期】:1995-03-01
【实施或试行日期】:
【发布单位】:日本工业标准调查会(JISC)
【起草单位】:TechnicalCommitteeonChemicalAnalysis
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:维生素C;化学试剂
【英文主题词】:vitaminc;
【摘要】:
【中国标准分类号】:G66
【国际标准分类号】:71_040_30
【页数】:9P;A4
【正文语种】:日语


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【英文标准名称】:ERRATUM
【原文标准名称】:勘误表
【标准号】:JIST8032ERRATUM1-2008
【标准状态】:现行
【国别】:日本
【发布日期】:2008-04-15
【实施或试行日期】:
【发布单位】:日本工业标准调查会(JP-JISC)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:
【英文主题词】:
【摘要】:
【中国标准分类号】:C73
【国际标准分类号】:
【页数】:1P;A4
【正文语种】:日语


基本信息
标准名称:硅片厚度和总厚度变化测试方法
英文名称:Test method for thickness and total thickness variation of silicon slices
中标分类: 冶金 >> 半金属与半导体材料 >> 半金属与半导体材料综合
ICS分类: 电气工程 >> 半导体材料
替代情况:替代GB/T 6618-1995
发布部门:中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局 中国国家标准化管理委员会
发布日期:2009-10-30
实施日期:2010-06-01
首发日期:1986-07-26
作废日期:
主管部门: 国家标准化管理委员会
提出单位:全国半导体设备和材料标准化技术委员会
归口单位:全国半导体设备和材料标准化技术委员会材料分技术委员会
起草单位:北京有研半导体材料股份有限公司
起草人:卢立延、孙燕、杜娟
出版社:中国标准出版社
出版日期:2010-06-01
页数:12页
计划单号:20065630-T-469
适用范围

本标准规定了硅单晶切割片、研磨片、抛光片和外延片(简称硅片)厚度和总厚度变化的分立式和扫
描式测量方法。
本标准适用于符合GB/T12964、GB/T12965、GB/T14139规定的尺寸的硅片的厚度和总厚度变
化的测量。在测试仪器允许的情况下,本标准也可用于其他规格硅片的厚度和总厚度变化的测量。

前言

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目录

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引用标准

GB/T2828.1 计数抽样检验程序 第1 部分:按接收质量限(AQL)检索的逐批检验抽样计划
(GB/T2828.1-2003,ISO28591:1999,IDT)
GB/T12964 硅单晶抛光片
GB/T12965 硅单晶切割片和研磨片
GB/T14139 硅外延片

所属分类: 冶金 半金属与半导体材料 半金属与半导体材料综合 电气工程 半导体材料